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  • 上海恒平紫外可見分光光度計(jì)UV2450
上海恒平紫外可見分光光度計(jì)UV2450

上海恒平紫外可見分光光度計(jì)UV2450

市場價(jià):22000

折扣價(jià):請(qǐng)來電咨詢

參數(shù):

波長:190~1100nm 帶寬:1.8nm 波長重復(fù)性:0.2nm


UV2650/UV2450掃描型比例監(jiān)測雙光束紫外-可見分光光度計(jì):配置7英寸TFT彩色電容觸摸顯示屏, 采用高智能的模塊設(shè)計(jì)、高自動(dòng)化的操作系統(tǒng)、先進(jìn)合理的光學(xué)電路系統(tǒng)和機(jī)械結(jié)構(gòu),具有高分辨率、低雜散光,提供出色的技術(shù)指標(biāo)和長時(shí)間穩(wěn)定的工作性能。

UV2650/UV2450主機(jī)具備良好的用戶界面,采用人機(jī)對(duì)話的操作方式,簡便易學(xué)。通過操控7英寸TFT彩色電容觸摸顯示屏上的菜單,即可完成所需要的測試功能。該儀器的光源更換非常簡便,氘燈和鎢燈的更換操作,只需旋動(dòng)光源固定螺絲即可完成光源的更換,無需進(jìn)行繁瑣的光路調(diào)整即可保證光源處于最佳位置。

主要應(yīng)用于石油、環(huán)境、化工、印染、食品、生物、制藥、環(huán)保、教學(xué)、醫(yī)學(xué)研究、臨床檢驗(yàn)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域,用于常規(guī)質(zhì)量控制(QC)和質(zhì)量分析(QA),是科研、生產(chǎn)、教學(xué)不可缺少的定性定量分析測試儀器。

UV-Solution紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器提供更加強(qiáng)大的功能(選配)。

主機(jī)特點(diǎn)

● 顯示及操作:人性化設(shè)計(jì),單主機(jī)能進(jìn)行光譜掃描,7英寸TFT彩色電容觸摸顯示屏顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線,更直觀,用戶操作簡單方便。

● 自動(dòng)八聯(lián)池:一次可放 7 個(gè)樣品,大大提高測樣分析速度。

● 自動(dòng)扣除比色皿誤差:使測光準(zhǔn)確度(被測樣濃度較低時(shí))更為準(zhǔn)確。

● 穩(wěn)定性:比例監(jiān)測雙光束光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng),確保儀器長時(shí)間的穩(wěn)定。

● 雜散光低:光學(xué)系統(tǒng)、電路系統(tǒng)和優(yōu)選的光學(xué)元器件保證儀器具有很低的雜散光,使高濃度樣品的測試工作更為準(zhǔn)確。

● 燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu),更換氘燈無需專用工具,免去換燈時(shí)的光路調(diào)試步驟,使儀器的調(diào)試和維護(hù)更加簡便。

● 豐富的可選附件:多種附件可供選擇,儀器測量功能更加廣泛。

● 具有USB 接口:可選配 UV-Solution 工作站軟件,可進(jìn)行多種測試(光譜掃描、導(dǎo)數(shù)光譜)等功能。

主機(jī)功能

● 光度測量:設(shè)定波長測試透過率或者吸光度,也可以進(jìn)行系數(shù)吸光度測量。

● 光譜掃描:掃描速度可選,掃描間隔可選( 0.1、0.5、1、2、 5nm ),峰 / 谷自動(dòng)檢測,圖譜縮放等功能。  

● 定量測量:雙波長法, 1-3 階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合,可建立 8 個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。

● 多波長測量:可以設(shè)定 5 個(gè)測量波長,并對(duì)同一樣品連續(xù)測量。

● 動(dòng)力學(xué)測量(時(shí)間掃描):進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測量,測量間隔時(shí)間可選,可保存近 10000 個(gè)測試數(shù)據(jù)點(diǎn)。

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

UV2650

UV2450

單色器

比例監(jiān)測雙光束,C-T 型單色器,1200 L/mm 全息光柵

傳感器

硅光電池

顯示屏

7英寸TFT彩色電容觸摸顯示屏

波長校準(zhǔn)

開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)

波長分辨率

0.1 nm

光源

氘燈,鎢燈(20W/12V)

光源切換點(diǎn)

可以人工設(shè)定,294 nm - 365 nm

波長范圍

190-1100 nm

光譜帶寬

1.8 nm

波長最大允許誤差

±0.1nmD2 656.1nm

±0.3nm全區(qū)域

±0.1nmD2 656.1nm

±0.5nm全區(qū)域

波長重復(fù)性

0.1 nm

0.2 nm

測量范圍

0 ~ 200%T, -4.000 ~ 4.000Abs, -9999 ~ 9999C, -9999 ~ 9999F

透射比最大允許誤差

±0.2%T(0-100%T)

±0.002Abs(0-0.5Abs)

±0.004Abs(0.5-1.0Abs)

±0.3%T(0-100%T)

±0.002Abs(0-0.5Abs)

±0.004Abs(0.5-1.0Abs)

透射比重復(fù)性

0.1%T(0-100%T)

±0.001Abs(0-0.5Abs)

±0.002Abs(0.5-1Abs)

0.1%T(0-100%T)

±0.001Abs(0-0.5Abs)

±0.002Abs(0.5-1Abs)

雜散光

0.03 %T (220nm360 nm)

0.05 %T (220nm360 nm)

基線平直度

≤±0.001 Abs

≤±0.002 Abs

漂移

≤0.0008 Abs / 半小時(shí) (500 nm處預(yù)熱后)

≤0.0015Abs / 半小時(shí) (500 nm處預(yù)熱后)

掃描速度

三擋:快速,中速,慢速

樣品架

自動(dòng)八聯(lián)池樣品架

數(shù)據(jù)輸出

數(shù)字信號(hào),USB端口

電源

220V

儀器尺寸

545mm X 450mm X 235mm

包裝尺寸

660mm X 560mm X 400mm

儀器凈重

17.0 Kg

儀器毛重

26.0 Kg